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长电科技领跑高端射频模组封测

来源:长电科技| 发布日期:2025-09-24 12:00:01 浏览量:

在智能手机迈向更高集成度与智能化的进程中,射频前端模组(RFFEM)作为实现通信功能的核心“引擎”,正经历深刻的技术演进。它不仅承担着信号收发与处理的关键任务,更通过高度集成化、小型化和系统级优化,支撑5G、Wi-Fi 6/7及毫米波等复杂无线应用,直接影响用户体验中的连接速度、稳定性和续航表现。

作为全球领先的芯片封测企业,长电科技(JCET)凭借在系统级封装(SiP)领域近20年的技术积累,持续加码高端射频前端模组封测布局,推出覆盖设计、制造到测试验证的一站式解决方案,助力客户应对5G多频段、高带宽带来的封装挑战。

高密度异构集成:实现小型化与高性能平衡

现代高端智能手机对空间利用极为苛刻,其射频前端模组需将功率放大器(PA)、射频开关、滤波器/双工器等多种异质芯片高度集成于微小封装内。长电科技采用高密度DsmBGA和3D SiP技术,支持最小008004尺寸被动器件贴装,贴装精度达±15μm,显著提升元件密度并缩小模组面积。结合双面SiP封装工艺,进一步压缩垂直空间占用,满足旗舰机型对轻薄化和高集成度的极致需求。

先进屏蔽与空腔结构:保障高频信号完整性

随着通信频率向毫米波延伸,电磁干扰(EMI)成为影响性能的关键因素。长电科技采用溅射工艺实现选择性或分腔式电磁屏蔽,精准覆盖敏感电路区域,有效隔离模块内部各功能单元间的串扰。同时,针对BAW、SAW等对环境敏感的滤波器芯片,提供空腔保护封装方案,在避免额外成本的同时提升高频稳定性,确保信号传输的纯净与可靠。

全链条能力支撑:从封装到系统验证

除先进封装工艺外,长电科技构建了覆盖射频微波、毫米波、5G蜂窝及无线通信的综合验证测试平台,支持从裸芯片、封装体到完整模组的协同测试,确保产品在实际应用场景下的性能一致性与长期可靠性。

长电科技副总裁、工业和智能应用事业部总经理金宇杰表示:“我们已建立稳健的全球交付体系,具备大规模量产高端射频模组的能力。未来将持续深化在AiP(Antenna-in-Package)、毫米波雷达及车规级射频SiP领域的布局,为智能终端、汽车电子和卫星通信提供高性能、高可靠性的封测服务。”

依托强大的技术平台与量产经验,长电科技正加速推动射频前端模组向更小、更强、更智能的方向发展,为下一代智能设备的无线连接体验提供坚实支撑。

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