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AO9926B是AOS万代一颗SO‑8封装双N沟道沟槽MOSFET,单颗芯片集成两路N沟道MOS,支持低栅压驱动,兼顾低导通电阻与低栅极电荷,适合负载开关、电池管理、小功率电源变换等场景,助力硬件小型化设计。
1、分立两颗MOS,占用PCB面积大
需要两路功率开关时,采用两颗独立MOS器件,会占用更多布板空间,不利于小型化设备的紧凑布局,物料数量也随之增加。
2、低电压MCU驱动,MOS开启不充分
很多系统主控IO输出仅1.8V‑3.3V,部分MOS管阈值电压偏高,低压栅极条件下无法完全导通,导通电阻变大,带来发热超标问题。
3、开关损耗与导通损耗难以兼顾
既要低导通压降减少发热,又希望栅极电荷小,实现高速开关,很多分立器件很难同时满足两项指标。
4、物料种类多,采购与生产管理繁琐
双路方案使用两颗独立MOS,物料清单变长,采购、贴片生产环节管理成本上升,也会提升物料错料风险。
AO9926B采用沟槽工艺,SO‑8封装内部集成两路N沟道MOSFET,V耐压20V,单通道连续电流7.6A,支持1.8V低栅极驱动,符合RoHS无卤标准,编带出货适合大批量SMT生产。
1、单芯片双N沟道,精简BOM与PCB面积
一颗SO‑8芯片集成两路独立N沟道MOSFET,原本需要两颗器件实现的双路开关功能,现在仅用一颗即可完成,减少器件数量,缩小PCB占用面积,简化物料管理。
2、宽栅压适配,支持1.8V逻辑电平驱动
阈值电压典型1.1V,可在VGS低至1.8V条件下正常开启;不同栅压下导通电阻表现优异:VGS=10V最大23mΩ,4.5V最大26mΩ,2.5V最大34mΩ,1.8V最大52mΩ,可直接对接3.3V、1.8V输出的MCU,无需额外电平转换电路。
3、低栅极电荷,适配高速开关工况
拥有较低栅极电荷与寄生电容,开关速度快,体二极管反向恢复时间短,降低高频应用下开关损耗,可用于单向、双向负载开关以及小功率DC‑DC变换电路。器件工作结温范围‑55℃~+150℃,满足消费及工业宽温使用需求。
4、标准SO‑8封装,便于量产落地
采用通用SO‑8贴片封装,编带包装,兼容标准SMT产线,湿气敏感性等级MSL‑1,仓储管控简单,适合消费电子、工业模块大批量生产。

- 电源通路:单向/双向负载开关电路
- 电池设备:锂电池供电系统电源控制
- 电源变换:小功率DC‑DC转换器
- 其他:20V以内,需要双路N沟道功率开关的硬件设计
AO9926B依托沟槽工艺双N沟道集成架构,支持1.8V低压逻辑驱动,兼顾低导通电阻与低栅极电荷,SO‑8单颗实现双路功率开关,精简BOM与PCB空间,为硬件工程师提供紧凑化的功率开关选型方案。
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