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AOTL037V60DE2:aMOS E2™平台首发600V超结MOSFET,专为高密度高效电源设计

来源:AOS| 发布日期:2026-02-06 16:00:01 浏览量:

在中高功率AC/DC与DC/AC系统持续追求更高效率、更高功率密度和更强可靠性的背景下,高压超结MOSFET已成为图腾柱PFC、LLC谐振变换器、移相全桥(PSFB)等先进拓扑的核心开关器件。Alpha and Omega Semiconductor(AOS)近期推出的aMOS E2™ 600V超结MOSFET平台,正是面向这一技术演进趋势的工程级回应。其首款产品——AOTL037V60DE2,采用TOLL封装,RDS(ON)低至37 mΩ,不仅优化了导通与开关损耗,更在体二极管鲁棒性、雪崩耐受能力及短路保护方面实现显著提升。

AOTL037V60DE2

针对软开关拓扑的深度优化

AOTL037V60DE2专为高频软开关应用设计,其关键优势在于极低的开关损耗与优化的体二极管特性。在图腾柱PFC的慢速臂或LLC初级侧等场景中,MOSFET体二极管常需承担续流任务。传统器件在高di/dt(如>1000 A/µs)下易因反向恢复电荷(Qrr)过大引发电压过冲甚至失效。而aMOS E2™平台通过结构创新,使体二极管具备更低Qrr与更强抗应力能力。实测表明,在150°C结温下,该器件可稳定承受di/dt = 1300 A/µs的极端换流条件,显著提升系统在启动、负载突变或短路瞬态下的可靠性。

全面增强的鲁棒性指标

除动态性能外,AOTL037V60DE2在静态与极限工况下同样表现优异:

雪崩能量(UIS)能力提升:在非钳位感性开关测试中,其耐受能量优于同类竞品,适用于存在感性关断应力的工业电机驱动;

更长的短路耐受时间(SCWT):为保护电路争取关键响应窗口,降低故障扩散风险;

宽安全工作区(SOA):支持高脉冲电流操作,适应临界导通模式H-4逆变器等高dv/dt应用;

抗误开启设计:通过优化米勒电容与阈值电压分布,有效抑制dV/dt-induced turn-on,确保高频硬开关下的运行稳定性。

封装与系统级价值

采用TOLL封装(6.0×9.9 mm²,高度仅2.3 mm),AOTL037V60DE2在提供低热阻(Rth(j-c) ≈ 0.3 °C/W)的同时,节省PCB面积达30%以上,契合服务器电源与光伏逆变器对紧凑布局的需求。其低RDS(ON)与优化的开关特性协同作用,可将典型3.3 kW图腾柱PFC的整机效率提升0.3–0.5%,在年运行数千小时的工业设备中,带来可观的节能收益。

应用覆盖广泛

该器件适用于:

3–10 kW服务器/电信电源(图腾柱PFC + LLC)

单相/三相光伏逆变器(H-4 / Cyclo-converter拓扑)

工业电机驱动(PSFB或硬开关半桥)

高密度车载OBC与DC/DC转换器

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