16年IC行业代理分销 覆盖全球300+品牌
现货库存，2小时发货，提供寄样和解决方案
24小时服务热线: 0755-82539998
现货库存，2小时发货，提供寄样和解决方案
热搜关键词：
在半导体器件可靠性评估中，阿伦尼乌斯（Arrhenius）模型被广泛用于预测芯片在特定工作条件下的使用寿命。该模型通过高温、偏压应力测试（HTOL）获得加速老化数据，并结合实际运行温度进行寿命折算，为汽车电子、工业控制等高可靠性要求领域提供理论依据。
阿伦尼乌斯模型由瑞典科学家Svante Arrhenius于1889年提出，最初用于描述化学反应速率与温度之间的关系。其核心公式如下：
L2=L1⋅e(kEa)(T11−T21)
其中：
L1：测试温度下的寿命；
L2：目标温度下的寿命；
Ea：激活能（activation energy），通常取值0.7 eV；
k：玻尔兹曼常数（8.617×10⁻⁵ eV/K）；
T1、T2：绝对温度（单位K）。
该模型表明，在一定温度范围内，温度升高会显著加快材料的退化过程，从而缩短器件寿命。
在汽车电子行业中，普遍采用JESD22-A108标准进行HTOL（High Temperature Operating Life）测试。根据行业统计，汽车芯片预期在15年内累计运行约12000小时，平均结温约为87°C（Tu）。基于此设定，不同等级的芯片需满足相应的测试条件：
消费级：典型测试条件为125°C/1000小时，计算得出理论寿命通常不足5年；
工业级：同样条件下，理论寿命可达15年；
车规级：要求更为严苛，需确保在极端工况下仍能满足15年使用寿命。
通过将实际测试数据代入阿伦尼乌斯方程，工程师可以推算出芯片在实际使用环境中的预期寿命。
尽管阿伦尼乌斯模型是当前主流的寿命预测方法之一，但其也存在一定局限性：
仅考虑温度因素：模型假设失效机制主要由温度驱动，忽略了电压、湿度、机械应力等其他影响因子；
激活能选取依赖经验：不同工艺、材料和失效机理对应不同的激活能，若选取不当可能导致误差；
无法反映突发性故障：适用于渐进式失效（如电迁移、热载流子效应），不适用于偶发性或瞬态失效模式。
因此，在实际工程评估中，建议结合多种加速老化测试手段（如THB、HAST、EM测试等），综合判断芯片的长期可靠性。
阿伦尼乌斯模型作为评估芯片寿命的重要工具，已被广泛应用于汽车电子和工业领域的可靠性验证流程中。工程师应理解其原理、适用范围及限制，并结合具体应用场景选择合适的测试条件与参数设置。
纳芯微近日宣布推出全新的基于全国产供应链的车规级SerDes芯片组，包括单通道加串器NLS9116和四通道解串器NLS9246。该系列芯片采用HSMT公有协议，旨在为ADAS系统（如摄像头、域控制器）以及智能座舱系统（涵盖摄像头、显示屏、域控制器）中的高速数据传输提供强有力的支持。随着汽车智能...【详情+】
纳芯微于2025年5月8日正式推出其最新产品——NSD3602-Q1系列双通道半桥栅极驱动芯片，旨在满足汽车车身应用中多电机或多负载场景的需求。这款新型驱动器不仅支持单路直流有刷电机的驱动，还能同时管理1到2路电磁阀，为诸如车窗升降、电动座椅、门锁、电动尾门以及比例阀等应用场景...【详情+】
电话
申请样品
留言
咨询