ADATE320：为ATE工程师打造的高性能单芯片引脚电子解决方案

对于自动测试设备（ATE）工程师而言，面对日益复杂的半导体测试需求，选择一款集成度高、性能稳定、可编程性强的引脚电子（PE）器件至关重要。ADI推出的 ADATE320 正是一款面向高端ATE应用的完整单芯片解决方案，集成了驱动器、比较器、有源负载（DCL）和四象限参数测量单元（PPMU），适用于高速数字与混合信号器件的测试。ADI代理授权、原厂货源 - 深圳市中芯巨能电子有限公司为您介绍 ADATE320 产品优势附原理图。

一、核心架构与性能优势

1. 高速、高精度驱动能力

ADATE320支持高达 1.25 GHz / 2.5 Gbps 的数据速率，具备三种驱动模式：高电平、低电平、终止模式，以及高阻抗抑制状态。其输出电压范围为 −1.5 V 至 +4.5 V，并集成动态钳位功能，可有效抑制传输线反射，提升信号完整性。

最小脉冲宽度：400 ps

确定性抖动：25 ps

输出阻抗控制：50.0 Ω 精准端接

2. 多模式接收与比较功能

ADATE320支持双单端或单差分通道配置，每个通道集成高速窗口比较器和可编程阈值差分比较器，适用于复杂的差分信号测试。

输入等效上升/下降时间：100 ps

比较器输出摆幅：

ADATE320：250 mV CML 输出

ADATE320-1：400 mV CML 输出（增强信号完整性）

3. 四象限PPMU与有源负载支持

每引脚集成四象限PPMU，支持电压与电流双向控制，适用于精密参数测量。

PPMU电压范围：−1.5 V 至 +4.5 V

电流范围：±40 mA、±1 mA、±100 μA、±10 μA、±2 μA

漏电流模式：典型值<5 nA，适用于高阻态测量

4. 集成16位DAC与自动校准机制

所有直流电平均由专用16位DAC生成，内置增益与失调校准寄存器，支持自动加/乘校正，确保长期测试中的测量精度。

校正系数可存储于芯片内

DAC编程自动应用校正因子，提升测试一致性

二、系统集成与安全性设计

SPI接口：用于配置功能模块、DAC及校准寄存器

片上温度传感器：实时监控芯片温度，防止过热

过压/欠压保护：防止输出引脚或PPMU电压异常导致的损坏

三、封装与功耗

封装：84引脚、10 mm × 10 mm LFCSP（0.4 mm间距）

功耗：

ADATE320：每通道1.2 W

ADATE320-1：每通道1.3 W

四、推荐应用场景

半导体测试系统：DDR、SerDes、FPGA等高速器件测试

ATE系统升级：替代多芯片PE方案，降低系统复杂度与PCB面积

电路板功能测试：支持数字、模拟及混合信号电路的全面验证

科研与表征测试：适用于器件特性分析、失效分析等高精度场景

五、ATE工程师选型建议

对于需要高性能、低抖动、宽电压范围与集成化测试能力的工程师：

首选ADATE320-1：若需更高比较器输出摆幅（400 mV），以提升接收端信号识别稳定性

标准版本ADATE320：适用于常规ATE测试需求，成本更具优势

六、附ADATE320原理图

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